BESCHREIBUNG DES THEMAS

Aufgrund des Sinkeffekts werden hochfrequente Daten und Signale nur auf der Mantelfläche eines Leiters übertragen. Die sogenannte Skintiefe bzw. Eindringtiefe wird dabei so gering, dass sie im Bereich der Oberflächenrauheit des Leiters liegt. In dieser Arbeit sollen die Rauheiten von ODU Koaxial- und Datentechniksteckverbindern untersucht und der Einfluss auf die Signalqualität ermittelt werden. Ziel der Arbeit ist die Entwicklung eines geeigneten Prüfaufbaus und entsprechender Prüflinge, mit welchem sich die S-Parameter abhängig von der Rauheit bestimmen lassen. Die Ergebnisse sollen in einer Empfehlung für die Konstruktionsabteilung festgehalten werden, welche Rauheit maximal erlaubt ist, um ein gegebenes Signal mit gegebener Bandbreite möglichst verlustarm übertragen zu können. Für die Entwicklung des Prüfaufbaus steht die Simulationssoftware CST zur Verfügung. Die Messungen können im hausinternen Labor am vektoriellen Netzwerkanalysator und an einem TDR (Time Domain Reflektometer) durchgeführt werden.

DEINE QUALIFIKATION

• Ingenieurwissenschaftliches Studium (Elektrotechnik, Nachrichtentechnik oder vergleichbar)
• Analytisches und methodisches Denken
• Selbständige und strukturierte Arbeitsweise
• Idealerweise Erfahrung mit Messungen an Netzwerkanalysatoren

WIR BIETEN

Bei ODU erwarten dich abwechslungsreiche und interessante Aufgaben im internationalen Umfeld mit den Werten eines familiengeführten Unternehmens. Profitiere von kurzen Entscheidungswegen und individuellen Entwicklungsmöglichkeiten und wertschätzenden Sozialleistungen. Arbeite im Team – vor Ort und im Homeoffice – und entscheide eigenverantwortlich